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YAMADA山田光学 YP-250I 表面瑕疵检查灯

池田屋现货YAMADA 表面瑕疵检查灯根据具体要求可以选择黄光和白光两种光源 可检测各种缺陷 如硅片 砷化镓 碳化硅等半导体晶片及液晶基板表面的异物 划痕 抛光不均 雾状 划伤等池田屋现货YAMADA 表面瑕疵检查灯池田屋现货YAMADA 表面瑕疵检查灯根据具体要求可以选择黄光和白光两种光源 可检测各种缺陷 如硅片 砷化镓 碳化硅等半导体晶片及液晶基板表面的异物 划痕 抛光不均 雾状 划伤等可照明

池田屋现货YAMADA 表面瑕疵检查灯根据具体要求可以选择黄光和白光两种光源 可检测各种缺陷 如硅片 砷化镓 碳化硅

等半导体晶片及液晶基板表面的异物 划痕 抛光不均 雾状 划伤等

池田屋现货YAMADA 表面瑕疵检查灯

池田屋现货YAMADA 表面瑕疵检查灯

根据具体要求可以选择黄光和白光两种光源 可检测各种缺陷 如硅片 砷化镓 碳化硅

等半导体晶片及液晶基板表面的异物 划痕 抛光不均 雾状 划伤等

可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。

因使用鹵素光源灯的光源,具有色温度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。

冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3

二段切換構造,可用按扭切換高照明観察及低照明観察。

型号:YP-150I照度范围φ30 可对应检查6寸半导体晶片

型号:YP-250I照度范围φ60 可对应检查8英寸半导体晶(通风机可选择螺旋式风扇或者管道通风型)

宏観観察用的照明设备,可検测各种缺陥如半导体晶片及液晶基板制品表面的异物、刮痕、抛光不均、雾状、划伤等。

大于400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).

使用卤素灯作为光源,色温高达3400K,照光和颜色均一了稳定强光的照射。

由于冷镜的使用,使得热影响与常规铝镜相比较少1/2   到 1/3

光束直径由镜片调整30-50mm 之间调整

底部开光,调整照明勘察器高度,操作简便,可控制光量